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双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

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双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

发布用户:Bgjy 时间:2021-09-18 00:32

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取

显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

四探针电阻率方块电阻测试仪适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,

按下“放大"键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大

输入电源输入:220V±10% 使用频率:50Hz

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

待参数设置完毕,开始测量,把测试获得的数据写入试验报告中

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

测量精度±(0.1%读数)

电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选

双电测电四探针电阻率/方阻测试仪生产商新昌

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

电 阻:1×10-5~2×105Ω

仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

中、英文界面

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维护和保养使用者的维护为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件,不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其的经销商给予维护。

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

四探针电阻率检测仪步骤及流程开启电源,预热5分钟.装配好探头和测试平台.设定所需参数.测量样品导出数据.

维护和保养使用者的维护为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件,不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其的经销商给予维护。

接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示"键进入,

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

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探针笔测试结束,套好护套,避免人为断针

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

以下设置和功能属于配置操作软件机型使用,如您购买的无电脑操作软件的话,请勿设置.

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